精準(zhǔn)洞察光學(xué)特性,賦能材料研發(fā)與質(zhì)控
——日本Shibuya Optical MSP-100反射率測(cè)量設(shè)備
在光學(xué)材料研發(fā)與精密制造領(lǐng)域,傳統(tǒng)反射率測(cè)量設(shè)備常面臨三大難題:微小樣品難聚焦、曲面/超薄件測(cè)量失真、數(shù)據(jù)效率低下。日本Shibuya Optical MSP-100以"納米級(jí)精度+工業(yè)級(jí)效率"重新定義行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),成為半導(dǎo)體、光電鍍膜、柔性顯示等行業(yè)的測(cè)量解決方案。
φ50μm微區(qū)定位:10倍物鏡精準(zhǔn)測(cè)量芯片焊點(diǎn)、Micro LED等微觀結(jié)構(gòu),分辨率達(dá)1nm。
0.2mm超薄挑戰(zhàn):20物鏡技術(shù),解決柔性O(shè)LED、光學(xué)薄膜的測(cè)量變形問(wèn)題。
曲面自適應(yīng):半反射鏡消除背面雜光,鏡片、曲面屏無(wú)需噴涂即可直接檢測(cè)。
? 用戶案例:某全球TOP3光學(xué)鍍膜廠借此將曲面AR鍍膜質(zhì)檢效率提升200%。
波段精準(zhǔn)控制:
±0.02%(451-950nm核心波段)——激光光學(xué)元件的黃金標(biāo)準(zhǔn)
±0.2%(紫外/近紅外邊緣波段)——寬光譜研究的可靠保障
15秒極速輸出:512元件PDA傳感器+高速數(shù)據(jù)鏈,比傳統(tǒng)設(shè)備快3倍以上。
一鍵多模態(tài)分析:
反射率+色度Lab*+光譜比色同步完成
非接觸薄膜測(cè)量保護(hù)珍貴研發(fā)樣品
智能數(shù)據(jù)管理:
多結(jié)果同屏對(duì)比,快速識(shí)別批次差異
Excel直接生成SPC控制圖,符合ISO質(zhì)量管理要求
行業(yè) | MSP-100的價(jià)值 | 競(jìng)品無(wú)法實(shí)現(xiàn)的優(yōu)勢(shì) |
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半導(dǎo)體 | 晶圓微區(qū)反射率映射 | 50μm測(cè)量不損傷電路結(jié)構(gòu) |
光學(xué)鍍膜 | 曲面鏡反射均勻性檢測(cè) | 無(wú)需背面處理,差<0.1% |
柔性顯示 | 超薄面板全區(qū)域掃描 | 0.2mm厚度下仍保持?jǐn)?shù)據(jù)一致性 |
科研機(jī)構(gòu) | 材料光學(xué)特性數(shù)據(jù)庫(kù)建設(shè) | 色度+反射率+薄膜數(shù)據(jù)三位一體輸出 |
成本節(jié)約:減少樣品預(yù)處理人工成本30%以上
風(fēng)險(xiǎn)控制:451-950nm波段±0.02%精度,避免激光器件批次性不良
未來(lái)兼容:Excel/API數(shù)據(jù)接口,無(wú)縫對(duì)接智能工廠系統(tǒng)
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技術(shù)參數(shù)速查
? 波長(zhǎng)范圍:380-1050nm
? 重復(fù)性:±0.02%(451-950nm)
? 最小測(cè)量區(qū):φ50μm
? 數(shù)據(jù)輸出:Excel/圖形化報(bào)告
精準(zhǔn)數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)品質(zhì)革命——MSP-100讓每一個(gè)光學(xué)特性無(wú)所遁形!